北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測(cè)試儀,電路板維修工作站,提供電路板診故障斷系統(tǒng)產(chǎn)品功能演示.
英國(guó)abi_BM8500電路板故障測(cè)試儀宣傳視頻:abi公司是一家有著30多年歷史的英國(guó)公司,主要從事集成電路和電路板測(cè)試設(shè)備的設(shè)計(jì)和生產(chǎn),一直處于行業(yè)領(lǐng)先地位.BM8500是abi公司專門針對(duì)電路板測(cè)試和故障檢測(cè)設(shè)計(jì)研發(fā)的主力產(chǎn)品.其硬件上采用模塊化設(shè)計(jì),用戶可以根據(jù)需要自由選擇搭配不同的功能模塊,或者擴(kuò)充測(cè)試通道以滿足測(cè)試需求.軟件方面BM8500采用一體化測(cè)控平臺(tái)設(shè)計(jì),支持各個(gè)功能模塊在同一平臺(tái)上操作使用,具備測(cè)試流程編輯器,方便用戶對(duì)測(cè)試過(guò)程和測(cè)試結(jié)果進(jìn)行記錄和保存,實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程的流程化,標(biāo)準(zhǔn)化,工藝化,使測(cè)試過(guò)程具備可回溯性.BM8500具備電路板測(cè)試功能,分為加電測(cè)試和非加電測(cè)試二種類型.非加電測(cè)試手段主要有V-I,V-I-F,V-T,V-T-F曲線測(cè)試,其中V-I-F三維立體阻抗曲線測(cè)試的測(cè)試方法,通過(guò)掃頻式V-I測(cè)試獲得頻域的響應(yīng)曲線,可以大大增加電路板和元器件的故障檢出率.V-T和V-T-F曲線測(cè)試可以對(duì)三極管,光耦,MOS管進(jìn)行開(kāi)關(guān)時(shí)間特性的測(cè)試,從而判斷器件的功能好壞.BM8500可以擴(kuò)充V-I和V-I-F測(cè)試通道,對(duì)電路板的IO端口進(jìn)行掃描,通過(guò)矩陣式VI測(cè)試可以測(cè)試管腳間的阻抗曲線,從而快速找出故障點(diǎn).數(shù)字電路高級(jí)測(cè)試功能針對(duì)數(shù)字器件和數(shù)字電路板設(shè)計(jì),可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行在線功能測(cè)試,管腳連接關(guān)系測(cè)試,管腳瞬時(shí)電壓量測(cè),數(shù)字VI曲線,曲線溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試.邏輯時(shí)序發(fā)生器可以自定義輸入邏輯信號(hào),量測(cè)輸出信號(hào),方便用戶生成新的數(shù)字功能庫(kù).
二維集成電路V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路;二維電路板V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路(可擴(kuò)充至2048路);三維掃頻V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:64路(可擴(kuò)充至2048路)
英國(guó)abi-BM8600電路板故障檢測(cè)儀(多功能電路板故障診斷工作站),硬件系統(tǒng)測(cè)試功能化設(shè)計(jì),可根據(jù)要求擴(kuò)充測(cè)試功能和測(cè)試通道,軟件系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程流程化設(shè)計(jì),可以通過(guò)非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程流程化:保存流程測(cè)試的步驟和數(shù)據(jù),形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程,提高排故和測(cè)試效率。
英國(guó)abi公司的BM8500電路板故障檢測(cè)儀是一個(gè)多功能且易于使用的測(cè)試系統(tǒng). 它提供了電路板檢測(cè)功能, 可幾乎含蓋了類型的電路板的檢測(cè)能力.無(wú)論在電路板的設(shè)計(jì)驗(yàn)證, 生產(chǎn)測(cè)試, 半導(dǎo)體器件測(cè)試, 生產(chǎn)或是一般維修保養(yǎng), 以及是否你的電路板是模擬還是數(shù)字的電路板, 或者是混合型的電路板.
英國(guó)abi-3400電路板故障檢測(cè)儀可在靜態(tài)(非加電)條件下分析器件及整板測(cè)試。采用三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線, 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問(wèn)題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件,增加問(wèn)題檢測(cè)范圍, 同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間!