英國(guó)abi-2500電路板故障檢測(cè)儀是為測(cè)試模擬器件提供的解決方案。它能對(duì)電路板維修檢測(cè)中多種常見的模擬集成電路和分立器件進(jìn)行功能測(cè)試,它還具備檢測(cè)類型的模擬和數(shù)字組件的眾所周知的手段:非加電V-I 曲線測(cè)試技術(shù)。如用戶只需要后一項(xiàng)V-I曲線功能,請(qǐng)選擇abi-2400測(cè)試模塊。
DT5000C電路板故障檢測(cè)儀主要測(cè)試功能:V-I曲線測(cè)試功能,數(shù)字示波器功能,Active主動(dòng)測(cè)試功能,FirmFlex信號(hào)強(qiáng)度測(cè)試功能,彩色液晶顯示,2路V-I曲線實(shí)時(shí)對(duì)比測(cè)試,雙20路V-I曲線對(duì)比測(cè)試,40路V-I曲線存儲(chǔ)對(duì)比測(cè)試,四個(gè)數(shù)字輸入通道.